CMP(2024年12月調査)

発刊日
2025/04/15
体裁
B5 / 37頁
資料コード
R67200102
PDFサイズ
10.4MB
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調査資料詳細データ

調査概要
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本調査レポートは、 定期刊行物 Yano E plus 2025年1月号 に掲載されたものです。

リサーチ内容

~導体微細化の進展・配線層の多段化・ゲート構造複雑化・三次元化、
先端ロジックのCMPプロセスは増加の一途をたどり重要性が増す~
 
1.CMPとは
2.CMP技術の特徴
  2-1.高精度な平坦化
  2-2.複雑な構造の均一化
  2-3.多用途性
  2-4.スラリーの役割
  2-5.パッドと基板の相互作用
  2-6.圧力と回転運動
  2-7.エンドポイント検知
  2-8.欠陥制御
3.CMP技術の変遷
  3-1.1980年代:初期研究と基礎技術の確立
  3-2.1990年代
    (1)CMPの実用化と普及
    (2)CMP技術の高度化
  3-3.2000年代
    (1)材料とプロセスの多様化
    (2)ナノメートルスケールデバイスへの対応
  3-4.2010年代
    (1)新材料・新技術の導入
    (2)CMPの自動化と最適化
  3-5.2020年以降
    (1)次世代技術への対応
4.CMP技術の新しいトレンド
  4-1.ナノメートルスケールでの精度向上
  4-2.3D NANDおよびFinFET構造の普及
  4-3.新素材対応
  4-4.低欠陥化と高スループット
  4-5.CMPの自動化とデジタル化
5. CMPに関する市場規模
  【図・表1.CMPの国内およびWW市場規模予測(金額:2025-2030年予測)】
  【図・表2.CMPのカテゴリー別WW市場規模予測(金額:2025-2030年予測)】
6.CMPに関連する企業・研究機関の取組動向
  6-1.国立大学法人東海国立大学機構岐阜大学
    (1) CMPプロセスの新しい「見える化」手法の提案
    【図1.接触画像解析法の原理を示した模式図】
    【図2.スラリーフローの二次元面内観察手法を示した模式図】
    (2)新原理に基づく次世代CMPの開発
    【図3.AIを応用した知能化CMP研磨装置】
    【図4.オゾンガスナノバブル添加スラリーを用いたCMP】
  6-2.国立大学法人九州工業大学
    (1)シリコンパワー半導体におけるCMPに関する研究
    【図5.SiCパワー半導体の構造図と加工によるダメージの影響】
    (2)フラーレンC60複合型スマート研磨微粒子を中心とした研磨微粒子設計に関する研究
    【図6.フラーレン複合微粒子の作製プロセス】
    【図7.フラーレン複合型スマート研磨微粒子の開発コンセプト】
    (3)マイクロパターンパッドに関する研究
    【図8.パッドの外観(上)とSEM拡大像(下)】
  6-3.株式会社Doi Laboratory
    (1)シリコン半導体の加工プロセスと平坦化CMPの現状と将来
    ①ベアSiウェハの超精密加工プロセス
    【図9.シリコンウェハプロセスからLSI デバイス/3DIC製造までの流れ】
    ②デバイスウェハのプラナリゼーションCMP
    【図10.考案・試作したダイナミック電気化学反応評価システムの
    外観写真(右上)・構造模式図(右下)・特性評価事例(左)】
    【図11.三次元半導体デバイス(3D-IC) 構造の一例)
    (2)次世代三次元異種混載デバイスを念頭にした超難加工材╱SiC、GaN、ダイヤモンドの加工プロセスはどうあるべきか
    【図12.プラズマ照射とCMP加工を融合した加工装置】
    【図13.長岡技術科学大学 會田研究室の実用型C-type装置】
    【図14.プラズマ融合CMP加工による(a)SiC基板、
    (b)ダイヤモンド基板、および (c)GaN基板の研磨特性の一例】
  6-4.株式会社トッパンインフォメディア
    (1)トッパンインフォメディアにおけるCMPスラリーの展開事例
    ① RDLインターポーザ用
    【図15.RDLインターポーザの構造】
    【図16. RDLインターポーザにおける配線形成プロセス】
    ②樹脂╱メタルのハイブリッドボンディング用
    【図17.樹脂╱メタルのハイブリッドボンディングのプロセス】
    (2) CMPスラリーのラインナップ
    【表1.トッパンインフォメディアのCMPスラリーラインナップ】
  6-5.学校法人立命館大学
    (1) SPEを用いたECMPの加工メカニズム
    【図18.SPEを用いたECMPの加工原理を示した模式図】
    (2) ECMP研磨装置
    【図19.ECMP研磨装置のイメージ図。FA研磨(左)、LA研磨(右)】
    (3) ECMPによる研磨性能評価
    【図20. ECMPによる研磨速度】
    【図21.ECMPによる平坦化性能。表面粗さ(上)、表面モルフォロジー(下)】
7.CMPに関する課題と将来展望
  7-1.課題
  7-2.将来展望

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